泰興市航順電子有限公司與您共同學習真正接觸電阻應由以下幾部分組成

1) 集中電阻

電流通過實際接觸面時，由于電流線收縮（或稱集中）顯示出來的電阻。將其稱為集中電阻或收縮

電阻。

2) 膜層電阻

由于接觸表面膜層及其他污染物所構成的膜層電阻。從接觸表面狀態(tài)分析；表面污染膜可分為較堅

實的薄膜層和較松散的雜質污染層。故確切地說，也可把膜層電阻稱為界面電阻。

3) 導體電阻

 實際測量電連接器接觸件的接觸電阻時，都是在接點引出端進行的，故實際測得的接觸電阻還包含接觸表面以外接觸件和引出導線本身的導體電阻。導體電阻主要取決于金屬材料本身的導電性能，它與周圍環(huán)境溫度的關系可用溫度系數(shù)來表征。為便于區(qū)分，將集中電阻加上膜層電阻稱為真實接觸電阻。而將實際測得包含有導體電阻的稱為總接觸電阻.在實際測量接觸電阻時，常使用按“開爾文電橋四端子法”原理設計的接觸電阻測試儀（毫歐計），其專用夾具夾在被測接觸件端接部位兩端，故實際測量的總接觸電阻 R 由以下三部分組成，可由下式表示：

R= RC + Rf + Rp,

式中：RC—集中電阻；Rf—膜層電阻；Rp—導體電阻。

接觸電阻檢驗目的是確定電流流經接觸件的接觸表面的電觸點時產生的電阻。如果有大電流通過高阻觸點時，就可能產生過分的能量消耗，并使觸點產生危險的過熱現(xiàn)象。在很多應用中要求接觸電阻低且穩(wěn)定，以使觸點上的電壓降不致影響電路狀況的精度。測量接觸電阻除用毫歐計外,也可用伏-安計法，安培-電位計法。在連接微弱信號電路中，設定的測試參數(shù)條件對接觸電阻檢測結果有一定影響。因為接觸表面會附 有氧化層，油污或其他污染物，兩接觸件表面會產生膜層電阻。由于膜層為不良導體，隨膜層厚度增加.接觸電阻會迅速增大。膜層在高的接觸壓力下會機械擊穿，或在高電壓、大電流下會發(fā)生電擊穿。但對某些小型連接器設計的接觸壓力很小，工作電流電壓僅為 mA 和 mV 級，膜層電阻不易被擊穿，接觸電阻增大可能影響電信號的傳輸。 在 GB5095“電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法” 中的接觸電阻測試方法之一，“接觸電 阻-毫伏法” 規(guī)定，為防止接觸件上膜層被擊穿，測試回路交流或直流的開路峰值電壓應不大于 20mV，交流或直流的測試中電流應不大于 100mA。 在 GJB1217“電連接器試驗方法” 中規(guī)定有“低電平接觸電阻” 和“接觸電阻” 兩種試驗方法。其中低 電平接觸電阻試驗方法基本內容與上述 GB5095 中的接觸電阻-毫伏法相同。目的是評定接觸件在加上 更多詳情請咨詢：http://exclusivehealthcareplacement.com